Šíření únavových trhlin je proces, který je popsán makroskopicky pomocí veličin jako je rozkmit faktoru intenzity napětí, J-integrálu nebo plastické části J-integrálu. Existuje mnoho modelů šíření trhlin na mikroskopické úrovni, které uvažují plastickou deformaci v okolí špice trhliny, ale které se liší v detailech. Pokrok v experimentálních metodách umožňuje přesnější a detailnější experimentální studium těchto procesů a následně jejich přesnější popis i modelování pomocí pokročilých metod molekulární statiky a dynamiky.
Cílem práce bude shromáždit co nejvíce detailů o dějích na špici únavové trhliny během jejího růstu, a to jak na povrchu vzorků, tak v jejich objemu. Budou použity moderní metody: digital image correlation (HR DIC) s vysokým rozlišením, electron chanelling contrast imaging (ECCI), electron backscatter diffraction s vysokým rozlišením (HR EBSD), focused ion beam (FIB) pro pozorování dějů na zvolených řezech a pro přípravu TEM lamel. Pozorování budou doplněna simulací mikroskopických dějů pomocí molekulární dynamiky nebo diskrétní dislokační dynamiky.
Metody měření budou nejprve ověřeny na čisté mědi jako modelovém materiálu a poté aplikovány na materiály zpevněné oxidickou disperzí (ODS), připravené pomocí aditivních technologií.