Garant: Bc. Jáchym Podstránský

Výroba a analýza nanostruktur, vývoj systému pro defektoskopii

Budete mít jedinečnou příležitost osvojit si nové metody přípravy nanostruktur a také pracovat s pokročilými přístroji pro analýzu, jako je např. SEM, AFM, konfokální mikroskop, profilometr, interferometr a další. Kromě seznámení se s výrobními a analytickými technikami budete mít také příležitost podílet se na vývoji systému pro defektoskopii tenkých vrstev na křemíkových destičkách. Tento zajímavý projekt…